什么是EMC？

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電磁兼容性EMC（Electromagnetic Compatibility）是指設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中符合要求運(yùn)行并不對其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生無法忍受的電磁干擾的能力。

EMC包括EMI(interference)和EMS(susceptibility),也就是電磁干擾和電磁抗干擾。

如果產(chǎn)品沒有通過EMC測試，生產(chǎn)出來的產(chǎn)品將會有以上很多的問題無法解決，所以必須通過EMC各標(biāo)準(zhǔn)的測試以達(dá)到產(chǎn)品性能的完整性。

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常創(chuàng)民用設(shè)備測試系統(tǒng)：

常創(chuàng)耐受測試系統(tǒng)（immunity IEC61000-4-3/6;GB17626.3/6）:

電磁輻射以幾種方式影響大多數(shù)電子設(shè)備，電磁環(huán)境取決于該環(huán)境內(nèi)的電磁場強(qiáng)度（V/m），沒有先進(jìn)的儀器，場強(qiáng)很難測量，也很難用公式來計算，需要在一個特定的環(huán)境下進(jìn)行測量。射頻輻射電磁場對設(shè)備的干擾往往是由設(shè)備操作、維修和安全檢查等人員在使用如無線電臺、電視發(fā)射臺、移動無線電發(fā)射機(jī)和各種工業(yè)電磁輻射源（以上屬有意發(fā)射），以及電焊機(jī)、晶閘管整流器、熒光燈工作時產(chǎn)生的寄生輻射（以上屬無意發(fā)射）等設(shè)備所產(chǎn)生的射頻輻射干擾。此項測試目的是建立一個共同的標(biāo)準(zhǔn)來評價電氣和電子設(shè)備的抗射頻輻射電磁場干擾的能力。

常創(chuàng)耐受測試系統(tǒng)由世界知名品牌，信號發(fā)生器、功率放大器及功率計為主體組成，測試頻率范圍從 9kHz - 6GHz。完全符合標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-3/6;GB17626.3/6要求。

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傳導(dǎo)和輻射耐受及抗干擾測試系統(tǒng)配置圖：

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常創(chuàng)發(fā)射測試系統(tǒng)（Emission Cispr14/15/22）:

電子設(shè)備自身都會有電磁輻射發(fā)出，而它發(fā)出的電磁輻射是否符合標(biāo)準(zhǔn)要求需要一個標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)進(jìn)行測試。

常創(chuàng)發(fā)射測試系統(tǒng)，由一臺符合CISPR16-1 標(biāo)準(zhǔn)要求的接收機(jī)為主要測量工具；測試頻率范圍從 9kHz - 6GHz（40GHz）。完全符合標(biāo)準(zhǔn)Cispr22及GB9254要求。

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它包括以下頻率范圍以及不同帶寬，具體分為：

傳導(dǎo)和輻射發(fā)射測試系統(tǒng)配置圖：

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常創(chuàng)諧波及電壓波動和閃爍測量系統(tǒng)（IEC61000-3-2/3 GB17625.1/2）

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諧波系統(tǒng)：

諧波測試的目的是測試EUT自身發(fā)出的諧波電流限值，并為其他設(shè)備發(fā)出的諧波留有適當(dāng)?shù)挠嗟亍?/span>

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電壓閃爍系統(tǒng)：

該測試的目的是測試EUT電源端的電壓波動和閃爍是否符合法規(guī)限值。

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?????????????????????????? 設(shè)備的基本功能配置圖:

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常創(chuàng)靜電放電測試系統(tǒng)：

放電發(fā)生器輸出電流的典型波形

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測試目的：

模擬被測物在遭受到靜電放電時性能是否會下降或失效，放電分為直接放電和間接放電兩類。對導(dǎo)電表面采用直接接觸放電的方式；對絕緣表面采用空氣放電方式。接觸放電為首選形式，只有在不能用接觸放電的地方(如表面涂有絕緣層，手機(jī)鍵盤縫隙等情況)才改用空氣放電。（該設(shè)備可輕易達(dá)到+/-30K測試等級。）

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只需要花非常少量的資金，更換內(nèi)部組件，（圖中黑色物體）和一槍頭，就可以達(dá)到不同測試標(biāo)準(zhǔn)要求。（因?yàn)椴煌瑴y試標(biāo)準(zhǔn)擁有不同測試波形。如汽車電子測試所需波形等。）

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常創(chuàng)haefely ecompact 4 測試系統(tǒng)

（EFT、SURGE、DIP、Ring wave整合測試系統(tǒng) 完全符合CISPR24標(biāo)準(zhǔn)需求。）

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EN61000-4-4 電快速脈沖群（EFT）

測試目的：這是一種耦合到電子設(shè)備的電源線、控制線

和信號線上的，且由許多快速瞬變脈沖組成的脈沖群試驗(yàn)。

試驗(yàn)要素是瞬變的短上升時間、重復(fù)率和低能量。

該系統(tǒng)使用一個高壓發(fā)生器，將干擾信號注入到EUT的電

源端，再以EUT的工作狀態(tài)來判斷EUT的受試端口在受

到重復(fù)性快速瞬變干擾時功能的確定。

備注：對于信號線部分的測試，則是通過一個偶合鉗將測試信號注入到線纜上。

EN61000-4-5 浪涌（Surge）

測試目的：測試被測物的電源線和內(nèi)部連接線在經(jīng)受來自開關(guān)切

換及自然界雷擊后是否會影響到其各項功能的一種測試。

這個測試與EFT相比測試干擾信號之間相比間隔時間較長，但能量非常高，可以說這個測試就是模擬由高能量開關(guān)和雷電變過瞬態(tài)產(chǎn)生的強(qiáng)電. 測試方法類似于EFT, 使用一個瞬態(tài)發(fā)生器，直接耦合到EUT供電電源上以確定被測物是否符合法規(guī)1.2/50波形要求.信號線10/700需另加模塊。

?EN61000-4-11 跌落 （DIP）

測試目的：電壓瞬時跌落、短時中斷是由電網(wǎng)、變電設(shè)施的故障或負(fù)荷突然出現(xiàn)大的變化所引起的。在某些情況下會出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的跌落或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負(fù)荷連續(xù)變化引起的。此項測試模擬電壓的突變效應(yīng)，以便建立一種評價電氣和電子設(shè)備在經(jīng)受這種變化時的抗擾性通用準(zhǔn)則。